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本申请提供了一种集成电路版图检测方法、装置及存储介质；方法包括：在版图中，确定多叉指结构，其中，多叉指结构包括：至少一个上连源漏端和至少一个上连通孔，上连源漏端通过上连通孔与上层金属线电连接；计算上连源漏端的数目和上连通孔的数目；针对多叉指...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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