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本公开实施例提供了一种测试电路，所述测试电路包括：控制电路和N个待测结构单元，N为大于1的整数；所述控制电路包括第一信号生成单元；所述第一信号生成单元用于接收时钟信号和第一输入信号，并根据所述第一输入信号输出第一选择信号以选中所述N个待测结...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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