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本实用新型涉及一种适用多类型芯片测试的芯片测试座，包括底座，底座上枢接有面盖，底座内设有安装槽，安装槽内依次设有相互连接的芯片定位板、芯片连接板以及探针连接板，芯片定位板与芯片连接板之间可拆卸连接，面盖上设有连接腔，连接腔内设有压块，连接腔...
该专利属于北臻（浙江）电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北臻（浙江）电子科技有限公司授权不得商用。

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