温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请提供一种测试方法、测试装置及电子设备，对器件施加多个反偏电压，测试每个反偏电压对应的反偏电流，相邻反偏电流之间的差值处于第一阈值内时，将相邻反偏电流中较大的反偏电流作为最大反偏电流，而后根据最大反偏电流以及器件的体相少子浓度和少子扩散...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。