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本公开涉及一种测试座、电路板、以及老化测试装置，测试座包括：座体、第一电连接部、第二电连接部以及压紧件。座体设有至少两个安装部，安装部用于放置芯片样品。第一电连接部用于与芯片样品电性连接。第二电连接部用于与电路板电性连接，还与第一电连接部电...
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