温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供了一种芯片磁强计光学集成方法及芯片磁强计，芯片磁强计光学集成方法包括：在衬底表面集成封装激光器光源以形成光源集成芯片，在衬底表面增加介质层；将芯片化的准直镜片与预置了介质层的光源集成芯片进行键合；将芯片化的偏振镜片与芯片化的准直镜...
该专利属于北京自动化控制设备研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京自动化控制设备研究所授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。