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一种半导体结构及其制造方法技术
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文档序号:37359813
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公开了一种半导体结构及其制造方法,方法包括:提供包括衬底、有源区多条位线结构和多条隔离栅栏的初始结构,位线结构和隔离栅栏相互交叉限定出多个暴露有源区的开口,位线结构包括位线层以及覆盖位线层侧壁的牺牲层、至少覆盖牺牲层的第一介质层;在开口内形...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。
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