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本公开提供了一种待测器件DUT异常识别方法、装置及设备，涉及芯片测试技术领域。该方法包括：获取多个被测芯片的原始测试数据，原始测试数据通过多个DUT对部分被测芯片执行不同测试项得到的测试数据；根据原始测试数据，得到目标测试项的平均失效率；根...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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