温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本实用新型涉及一种适用于半导体分立器件芯片测试装置，属于半导体分立器件芯片测试技术领域。包括台盘，台盘设于底座上方，所述台盘侧面开设真空进气孔，所述台盘表面开设若干均匀分布的真空出气孔，所述真空进气孔、真空出气孔与台盘内腔相贯通；所述台盘通...
该专利属于江苏新顺微电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏新顺微电子股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。