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制造半导体器件的方法技术
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文档序号:37293929
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本发明涉及一种制造半导体器件的方法,该方法可以有利于刻蚀支撑件和去除模塑层的工艺。根据本发明,一种制造半导体器件的方法包括:依次在衬底之上形成子结构和在子结构之上形成刻蚀停止层;在刻蚀停止层之上形成交替堆叠的模塑层和支撑件层的堆叠结构;在暴...
该专利属于爱思开海力士有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过爱思开海力士有限公司授权不得商用。
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