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一种半导体存储器设备，包括：存储器半导体管芯，其包括被配置为响应于从主机设备接收的命令和地址中的至少一个而执行正常操作的易失性存储器设备；以及与存储器半导体管芯垂直堆叠并且包括非易失性存储器设备的测试芯片。该测试芯片在正常模式下被配置为存储...
该专利属于三星电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三星电子株式会社授权不得商用。

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