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本实用新型公开一种芯片测试治具，该芯片测试治具包括底座、第一面盖、第二面盖和测试板，所述第一面盖与所述第二面盖分别位于所述底座的两侧并与其活动连接；其中，所述底座的相对两面分别开设有第一测试槽和第二测试槽，所述第一测试槽与所述第二测试槽用于...
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