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本发明设计用于在等离子工艺中检测电弧的一种方法和电弧检测装置（１），包括至少一个比较器（ＡＤＣ），为所述比较器提供ＡＣ发生器的输出信号或者与所述输出信号有关的内部信号作为评估信号，还为所述比较器提供参考值（Ｒ１到Ｒ４），其中，比较器（３到６...
该专利属于许廷格电子有限及两合公司所有，仅供学习研究参考，未经过许廷格电子有限及两合公司授权不得商用。

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