下载感测放大结构和存储器架构的技术资料

文档序号:37155657

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本申请涉及半导体电路设计领域,涉及一种感测放大结构和存储器架构,包括:第一PMOS管,栅极连接第二互补读出位线,源极连接第一信号端;第一NMOS管,栅极连接初始位线;第一PMOS管的漏极和第一NMOS管的漏极连接第一互补读出位线;第二PMO...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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