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本发明涉及一种闩锁测试结构，包括：第一导电类型的衬底；第二导电类型的第一阱区，位于第一导电类型的衬底内；第一导电类型的第一掺杂区，位于第二导电类型的第一阱区内；第二导电类型的第一掺杂区，位于第二导电类型的第一阱区内；于第一导电类型的衬底内间...
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