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本发明提出了一种单粒子瞬态模拟方法，包括：获取预设的粒子入射的径向参数、粒子入射深度、轨道路径系数、时间参数和电子
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该专利属于哈尔滨工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过哈尔滨工业大学授权不得商用。

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