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本实用新型提供了一种测试装置，用于辅助测量呈阵列状排列的LED芯粒，包括至少一个第一测试卡，所述第一测试卡包括第一基底层、设于所述第一基座层上的第一导电线路、分别连接于所述第一导电线路两端的第一测试片、以及间隔设置于所述第一导电线路上的多个...
该专利属于华引芯（武汉）科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华引芯（武汉）科技有限公司授权不得商用。

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