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本发明公开了一种FPGA芯片的老炼测试模块、系统以及方法，通过在可编程逻辑母板上预设PID控制算法，并在测试子板上设置各个待测芯片一一对应的温控单元，在FPGA芯片的老炼测试过程中对测试子板上的待测芯片进行自动有效的温度控制，该FPGA芯片...
该专利属于上海安路信息科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海安路信息科技股份有限公司授权不得商用。

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