一种FPGA的老炼测试模块、系统以及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种FPGA芯片的老炼测试模块、系统以及方法，通过在可编程逻辑母板上预设PID控制算法，并在测试子板上设置各个待测芯片一一对应的温控单元，在FPGA芯片的老炼测试过程中对测试子板上的待测芯片进行自动有效的温度控制，该FPGA芯片的老炼测试模块、系统以及方法降低了测试成本并提升测试效率；进一步地，本发明专利技术提供的一种FPGA芯片的老炼测试模块、系统以及方法还通过设置三路电源以支持对待测芯片的电压、上下电时序的调节，从而实现待测芯片超频老炼，提高老炼效率，并提升了老炼系统的扩展性。老炼系统的扩展性。老炼系统的扩展性。

【技术实现步骤摘要】
一种FPGA的老炼测试模块、系统以及方法


[0001]本专利技术涉及FPGA芯片的老炼测试
，尤其涉及一种FPGA芯片的老炼测试模块、系统以及方法。

技术介绍

[0002]老炼测试通常会在高温环境进行，能够使FPGA快速进入失效率较低且稳定的偶然失效期，是剔除FPGA潜在缺陷的重要方法。如不开展老炼试验，含有缺陷的器件在使用条件下会出现初期致命失效或早期寿命失效，从而直接影响客户在产品端的故障，造成不可估量的损失。传统的FPGA老炼测试如图，主要由计算机、老炼测试板、温箱三部分组成。计算机主要与测试板上的主控芯片通信获取测试信息，老炼测试板包含了主控芯片和待测芯片；主控芯片采集各待测芯片的测试状态并与计算机通信。
[0003]在现有技术中，整个老炼板存放于温箱中，进行高温老化以使FPGA快速进入失效率较低且稳定的偶然失效期，从而剔除FPGA潜在缺陷。
[0004]但是，现有技术仍存在如下缺陷：1.温箱容积有限，测试效率偏低，会导致测试成本增加；2.老炼测试板整体存放于温箱中，板上非待测的其他器件会降低使用寿命，导致测试板更本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种FPGA芯片的老炼测试模块，其特征在于，所述老炼测试模块包括可编程逻辑母板以及分别与所述可编程逻辑母板通信连接的若干个测试子板，所述可编程逻辑母板包括IO接口，所述测试子板包括温控单元以及待测芯片，其中，所述可编程逻辑母板用于接收主控板发送的测试命令，根据所述测试命令以及所述IO接口，对所述待测芯片进行测试，并在测试过程中通过预设的PID控制算法、所述IO接口以及所述温控单元对所述待测芯片进行温度控制；所述可编程逻辑母板还用于接收所述待测芯片反馈的测试信息，并将所述测试信息发送给主控板。2.根据权利要求1所述的FPGA芯片的老炼测试模块，其特征在于，在测试过程中通过预设的PID控制算法、所述IO接口以及所述温控单元对所述待测芯片进行温度控制，具体包括：实时获取所述待测芯片反馈的温度状态信息以及预设的测试温度值；根据所述温度状态信息、所述测试温度值以及预设的PID控制算法，分析获取温度调控需求，并根据所述温度调控需求，通过所述IO接口调整所述温控单元的通断情况。3.根据权利要求2所述的FPGA芯片的老炼测试模块，其特征在于，所述测试子板还包括内核电压、辅助电压以及IO电压，所述可编程逻辑母板通过所述IO接口分别连接到所述内核电压、所述辅助电压以及所述IO电压。4.根据权利要求3所述的FPGA芯片的老炼测试模块，其特征在于，根据所述测试命令以及所述IO接口，对所述待测芯片进行测试，具体包括：根据所述测试命令，驱动所述IO接口对所述芯片测试区域的待测芯片进行老炼测试，并实时接收所述待测芯片通过串口反馈的测试信息；所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘振国，赵君，周定双，吕程，
申请(专利权)人：上海安路信息科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：