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文档序号:36901971
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一种检测异常的方法包括:使用预定时段包括的多个时间点的不良品数据来计算参考不良率;使用所述参考不良率来计算与所述预定时段之后的检测时间点的不良品数据相对应的检测不良率和权重;基于将所述检测不良率乘以所述权重来计算异常指标;将所述异常指标与对...
该专利属于三星电子株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过三星电子株式会社授权不得商用。
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