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一种半导体结构及其制造方法技术
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文档序号:36897124
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本申请实施例公开了一种半导体结构及其制造方法,半导体结构的制造方法包括:在基底上形成间隔排布的第一掩膜图案层;在第一掩膜图案层内沉积第一介质层;刻蚀第一介质层形成第一沟槽,第一沟槽暴露基底以及第一掩膜图案层的部分侧壁;沿第一沟槽刻蚀基底至第...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。
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