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避免FC封装因应力产生芯片层裂纹的解决方法及其结构技术
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文档序号:36849966
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本发明提供一种避免FC封装因应力产生芯片层裂纹的解决方法及其结构,包括以下步骤:根据再分布层生长应力光学薄膜应力模型的假设,当再分布层厚度≥10μm时,再分布层生长应力与再分布层厚度成正比,再分布层内应力随再分布层厚度的增加而增大,将再分布...
该专利属于华天科技(南京)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过华天科技(南京)有限公司授权不得商用。
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