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本实用新型涉及一种芯片检查治具。包括:第一置放件，设置有用于置放沿第一方向排列的多个芯片的第一置放槽，所述第一置放槽在沿第一方向延伸的两个相邻的侧面敞开；第二置放件，设置有用于置放沿第一方向排列的多个芯片的第二置放槽，所述第二置放槽在沿第一...
该专利属于吉光半导体（绍兴）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过吉光半导体（绍兴）有限公司授权不得商用。

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