温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供高精度地测定被测定物的电特性的导体连接构造以及具备该导体连接构造的探针。一种从基端侧(A)向末端侧(B)延伸的探针(1)中的导体连接构造(8)，该探针供将中心导体(72)、电介质(74)及外部导体(76)同轴地配置的同轴电缆(70...
该专利属于株式会社村田制作所所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社村田制作所授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。