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本公开提供一种晶圆老化测试方法、系统与电子设备。晶圆老化测试方法包括：获取目标芯片颗粒的多个测试单元在第i个老化时间段结束时的测试通过率，测试通过率为多个测试单元中测试结果为通过的测试单元的占比，i为大于1的整数；根据目标芯片颗粒在前i个老...
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