温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明是一种使用了质量分析装置的质量分析方法，包括：通过质量分析装置的控制部，基于分析对象成分的分子式、包含在分析对象成分中的存在多个同位素的元素的同位素存在比，计算分析对象成分的同位素的质量和各质量的分析对象成分的存在比，从而计算理论质谱...
该专利属于株式会社日立高新技术所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社日立高新技术授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。