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本申请提供一种扇出检测方法，获取目标电路中元器件的物理参数和连接导线的寄生参数，以及标准电路中元器件的物理参数，并根据目标电路中元器件的物理参数和连接导线的寄生参数，以及标准电路中元器件的物理参数，从而能够准确计算目标电路相对于标准电路的实...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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