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关键尺寸的控制方法与控制系统技术方案
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下载关键尺寸的控制方法与控制系统的技术资料
文档序号:36732125
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本发明提供了一种关键尺寸的控制方法与控制系统,该控制方法包括:建立光刻胶的曝光剂量与关键尺寸变异值的对应关系的第一数据库;获取关键尺寸的实际变异值,根据实际变异值与第一数据库,获取曝光剂量的第一修正量;建立光刻胶的烘烤与显影之间的等待时间与...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。
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