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本发明提供了一种产品良率的评估方法，包括：从已经完成测试的产品中选出良率达标的产品，并提取产品各个参数的值，作为基准参数值，并制作成第一文件；从待分析良率的产品中提取各个参数的值，作为待评估参数值，并制作成第二文件；采用分析工具调用第一文件...
该专利属于上海华力微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华力微电子有限公司授权不得商用。

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