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本实用新型公开了一种晶圆测量分选装置，包括底座，所述底座的底部分别固定连接有支腿，所述支腿的底部设置有垫板，所述底座的下表面分别设置有合格品收集箱、分选箱以及不合格品收集箱，所述底座的内部分别开设有与合格品收集箱、分选箱以及不合格品收集箱相...
该专利属于涌淳半导体（无锡）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过涌淳半导体（无锡）有限公司授权不得商用。

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