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本申请公开了一种IC芯片烧录检测装置及检测方法，包括安装组件、轨道组件、检测组件以及转移组件，轨道组件包括过渡通道、出料通道以及编带传输通道，过渡通道与出料通道之间设置有3D检测区和IC转移区；检测组件包括3D检测机构；转移组件设置在过渡通...
该专利属于深圳市华力宇电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市华力宇电子科技有限公司授权不得商用。

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