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本申请涉及一种基于具有特殊小数点的晶片尺寸建立晶圆芯片模型的方法，包括：提供晶圆图像，所述晶圆图像被划分为多个芯片区域，所述芯片区域的尺寸规格具有特殊小数点；确定晶圆图像的中心点的坐标位置；基于所述特殊小数点形成的舍入误差，计算参考区域；基...
该专利属于深圳市华力宇电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市华力宇电子科技有限公司授权不得商用。

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