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一种装置包括晶体分析器，该晶体分析器相对于x射线源定位在切面中的罗兰圆上并具有罗兰圆半径(R)。晶体分析器包括至少在切面内沿至少一个方向弯曲的晶面，其曲率半径基本上等于罗兰圆半径的两倍(2R)。晶面被配置为接收来自x射线源的x射线，并根据布...
该专利属于斯格瑞公司所有，仅供学习研究参考，未经过斯格瑞公司授权不得商用。

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