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本发明公开了一种石墨烯薄膜的电磁干扰屏蔽效能测试方法，包括以下步骤：S1、对网络分析仪中连接器和传输线之间产生的损耗进行校正补偿；S2、根据同轴线的尺寸，将待测薄膜样品通过激光切割雕刻机切割成样品；S3、制备的测试样品被放置在EMI屏蔽同轴...
该专利属于武汉理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过武汉理工大学授权不得商用。

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