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半导体结构及其制备方法技术
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文档序号:36328411
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本发明涉及一种半导体结构及其制备方法,包括提供衬底,衬底包括器件区域及外围区域;于器件区域形成位线结构,于外围区域形成晶体管结构;晶体管结构包括栅极结构,位线结构包括位线导电层及位线保护层;栅极结构包括栅氧化层、高介电常数介质层、栅极导电层...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。
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