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本申请实施例提供一种半导体测试结构及其形成方法，其中，所述方法包括：提供半导体衬底，半导体衬底包括多个间隔排布的有源区；在半导体衬底中形成与有源区之间具有预设距离的第一导电连线；第一导电连线连接在每一所述有源区上形成的有源器件的衬底；形成着...
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