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本公开实施例公开了一种探针测试的验证方法及装置、电子设备、存储介质，所述方法包括：获取利用第一测试设施对晶圆上的多个半导体器件进行探针测试的第一测试结果；根据所述第一测试结果，对所述多个半导体器件进行分组；其中，分组后的各组之间半导体器件的...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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