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本公开提供一种晶圆测试方法、装置、设备及存储介质，晶圆测试方法包括：获取晶圆的批次信息和多组预设测试条件；基于每组预设测试条件，对同批次晶圆中预设数量的裸片分别进行测试，获得每组预设测试条件对应的目标采样时间点；根据每组预设测试条件及其对应...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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