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电子器件及其制造方法技术
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文档序号:36176918
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本文提供了一种电子器件及其制造方法,该电子器件包括半导体存储器,该半导体存储器包括:存储单元;保护层,其沿存储单元的轮廓来设置;缓冲层,其介于存储单元的至少一部分侧壁与保护层之间,其中,缓冲层与保护层包括氮化硅,以及其中,保护层的密度大于缓...
该专利属于爱思开海力士有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过爱思开海力士有限公司授权不得商用。
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