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本发明提供光学传感器和几何测量设备。[问题]抑制在通过向待测对象辐射线形光来测量待测对象时的测量误差。[解决方案]一种光学传感器(10)，包括：辐射部(20)，其利用线形光来照射待测对象；以及摄像部(40)，其接收由待测对象反射的线形光，并...
该专利属于株式会社三丰所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社三丰授权不得商用。

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