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一种沟槽填充方法及半导体器件,所述方法包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底具有第一沟槽和第二沟槽,所述第一沟槽的深度大于所述第二沟槽的深度;采用化学气相沉积工艺形成第一钨层,所述第一钨层填满所述第一沟槽;采用物理气相沉积工艺形成第二钨层,所...该专利属于格科半导体(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过格科半导体(上海)有限公司授权不得商用。
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一种沟槽填充方法及半导体器件,所述方法包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底具有第一沟槽和第二沟槽,所述第一沟槽的深度大于所述第二沟槽的深度;采用化学气相沉积工艺形成第一钨层,所述第一钨层填满所述第一沟槽;采用物理气相沉积工艺形成第二钨层,所...