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本实用新型涉及半导体技术领域，具体提供一种探针卡及半导体测试装置，旨在解决现有探针卡的布线转接板存在电压损耗，导致测试准确度降低的问题。为此目的，本实用新型的探针卡包括：布线转接板；第一探头，所述第一探头设置在所述布线转接板上，所述第一探头...
该专利属于芯奥普科技（北京）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过芯奥普科技（北京）有限公司授权不得商用。

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