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形成半导体结构的方法技术
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文档序号:35765600
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本揭示内容中的一些实施方式提供形成半导体结构的方法,包含:提供基板;形成第一硬罩层于基板上;形成第二硬罩层于第一硬罩层上;形成复数遮罩图案于第二硬罩层上,其中遮罩图案由复数沟槽分隔,沟槽暴露出第二硬罩层,并具有第一深度;去除未被遮罩图案覆盖...
该专利属于南亚科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过南亚科技股份有限公司授权不得商用。
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