下载晶圆抓取装置的技术资料

文档序号:35612771

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本申请提供了一种晶圆抓取装置,其用于晶圆的抓取,其中,晶圆具有一初始厚度。晶圆抓取装置包括:抓取结构、感应器、执行机构和控制器,抓取结构的初始位置与晶圆的位置有一初始高度差,抓取结构用于承托晶圆。感应器设置于抓取结构,感应器用于测量晶圆的实...
该专利属于杭州富芯半导体有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过杭州富芯半导体有限公司授权不得商用。

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