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本发明提供一种多晶硅干法刻蚀的方法及半导体结构的制备方法,多晶硅干法刻蚀的方法包括:提供半导体基底;于半导体基底表面形成多晶硅层;于多晶硅层表面形成光阻层,并对光阻层进行图形化,以使光阻层形成打开区与阻止区,且打开区贯穿光阻层;基于打开区对...该专利属于广州粤芯半导体技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过广州粤芯半导体技术有限公司授权不得商用。
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本发明提供一种多晶硅干法刻蚀的方法及半导体结构的制备方法,多晶硅干法刻蚀的方法包括:提供半导体基底;于半导体基底表面形成多晶硅层;于多晶硅层表面形成光阻层,并对光阻层进行图形化,以使光阻层形成打开区与阻止区,且打开区贯穿光阻层;基于打开区对...