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本申请公开了用于测试错误校正电路的半导体器件和半导体系统。该半导体器件包括：控制电路，其被配置为：基于用于执行错误校正测试模式的写入控制信号、写入检查命令和读取检查命令来产生输入使能信号、输出使能信号、锁存控制信号和错误校正控制信号；锁存电...
该专利属于爱思开海力士有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过爱思开海力士有限公司授权不得商用。

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