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本申请公开了一种红外探测器的制作方法及其盲元处理方法，设计探测器领域，用于盲元检测及成因分析。该方法包括获取红外探测器的芯片上每个预划分区域内局部像元阵列的第一性能参数集合；第一性能参数集合中的第一性能参数与局部像元阵列中的像元相对应，局部...
该专利属于北京智创芯源科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京智创芯源科技有限公司授权不得商用。

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