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本实用新型涉及一种瑕疵检测设备，包括：上料模组、光学检测模组、标记模组、下料模组和载物平台；上料模组位于光学检测模组的上料端，用于将物料放置于载物平台上；下料模组位于光学检测模组的下料端，用于将物料从载物平台上取下；载物平台可被驱动地由上料...
该专利属于深圳市联得半导体技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市联得半导体技术有限公司授权不得商用。

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