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本申请实施例公开了一种晶圆测试方法、系统及芯片应用方法，所述晶圆测试方法包括：提供待测晶圆，所述待测晶圆上集成有若干裸片；根据多个预设应用类型，分别对所述裸片进行测试和设置；根据所述裸片的测试参数和设置参数，生成与所述多个预设应用类型对应的...
该专利属于长江存储科技有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过长江存储科技有限责任公司授权不得商用。

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