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本申请涉及一种芯片测试方法及其装置、计算机设备及其可读存储介质。芯片测试方法包括：向待测芯片施加测试信号；向所述待测芯片发送数据信号，所述待测芯片基于所述测试信号和所述数据信号进入测试模式，并对所述待测芯片进行测试电压调节。本申请提供的芯片...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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